Problematik

Bei der SMD-Leiterplattenprüfung mit AOI-Systemen kommt es in der Praxis häufig zu fehlerhaften Erkennungen und Übersehungen. Diese Probleme entstehen, weil sich die Prüfobjekte oder deren Erscheinungsbild im multimodalen Prüfsystem verändern, unerwartete Situationen auftreten, Prüfprogramme auf verschiedenen Systemen wiederverwendet werden oder neue Objekte ins Spiel kommen. Um diese Herausforderungen zu bewältigen, müssen Inspektoren die Ergebnisse des AOI-Systems überprüfen. Allerdings wird die Genauigkeit der Fehlererkennung durch die hohe Arbeitsbelastung, subjektive Wahrnehmungen und die Ermüdung der Inspektoren beeinträchtigt, was die Beurteilung des AOI-Systems erschwert.

Lösung

Um dieses Problem zu lösen, wurde ein adaptives, multimodales AOI-Systems entwickelt. Dieses System erweitert das herkömmliche multimodale AOI-System durch die Integration eines KI-basierten Novelty Detektors, der auf One-Class Klassifizierung basiert, um sowohl das AOI-System als auch den Inspektor zu unterstützen. In diesem Konzept wird PatchCore als Novelty Detektor verwendet, um die vom AOI-System erkannten Fehler in Verbindung mit den Systemergebnissen zu bewerten und dadurch die endgültigen Ergebnisse mit höherer Zuverlässigkeit zu ermitteln. So können auch manuelle Entscheidungen überprüft und bessere Handlungsempfehlungen gegeben werden.

Vorteile für KMU

Mit diesem Konzept kann zunächst die fehlerhafte und unvollständige Erkennung von Defekten bei SMD-PCBs verringert werden. Zudem werden die Prüfprogramme in unsicheren Situationen gestärkt. Schließlich wird die Arbeitsbelastung des Inspektors reduziert, während gleichzeitig seine Effizienz gesteigert wird.

Ihre Ansprechperson zur Testumgebung PatchCore als Novelty Detektor:

Albrecht Heß Dipl.-Ing,
Fachgebiet Qualitätssicherung und Industrielle Bildverarbeitung
Telefon: +49 3677 69-3925
Mail: albrecht.hess@tu-ilmenau.de